Vision시스템

EG X-RAY AOI

관리자 | 2013.12.07 03:31 | 조회 8606

- 검사하고자 하는 영역을 지정하여 Defect 검사
- 검출된 Defect을 화면에 표시
- X-Ray 비파괴 검사이므로 제품의 손상이 없음
- Defect 검출여부에 따른 결과를 LAN으로 전송
- 99가지 Mode를 지원하여 각 Mode는 인식영역, 조명밝기, 검사할 Defect크기, 검사알고리즘 등을 지정
- 검사된 Crack이나 Defect는 관찰모드(전체확대, 영역설정에 의한 부분확대 등 지원)에서 관찰
- 불량, 정상 여부와 날짜 및 시간이 기입된 이미지 파일로 저장
- 디지털 조명 채용으로 정확한 조명수치 유지관리

- 응용분야 : 공항의 검색대, 반도체칩 내부 결함, BGA칩의 납땜 불량, 봉제 제품속 바늘, 빵 속의 이물질, 제약회사의 이물질 검사에 널리 응용

EG X-RAY AOI, 호연지재, 공장자동화, FA, Factory Automation, 머신비전, Machine Vision, 카메라, Camera, 프레임 그래버, Frame Grabber, 렌즈, Lens, 조명, Light, Strobe

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번호	제목	글쓴이	조회	날짜
>>	EG X-RAY AOI	관리자	8606	2013.12.07 03:31
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